МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ ТА НАУКИ УКРАЇНИ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ “ЛЬВІВСЬКА ПОЛІТЕХНІКА” КАФЕДРА ЕЛЕКТРОННИХ ОБЧИСЛЮВАЛЬНИХ МАШИН ЛАБОРАТОРНА РОБОТА №4 З КУРСУ “МЗТВДКС” „Система граничного сканування”  Мета роботи: ознайомитись з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990. Показати, як здійснюється перевірка мікросхеми в тестовому режимі, коли треба перевірити передачу даних з тестового входу TDI на інформаційний вихід 1Y1 (тестові дані повинні подаватися на тестовий вхід TDI, результат повинен видаватися на інформаційний вихід 1Y1. ТЕОРЕТИЧНА ЧАСТИНА Граничне сканування полягає в тому, що всередині кожної мікросхеми біля кожного її контакту знаходиться тригерна схема F (рис. 3.1.1). У штатному режимі роботи тригерна схема "прозора" і не впливає на роботу мікросхеми. В налагоджувальному режимі тригерна схема F: від’єднує контакти мікросхеми від її внутрішньої логіки; утворює регістр зсуву разом з аналогічними схемами біля усіх контактів мікросхеми, який з зовнішнім (по відношенню до мікросхеми) світом зв’язаний за допомогою інтерфейсу СГС; як елемент регістра під час виконання ним операції зсуву приймає тестову інформації, яка у послідовному коді подається на вхід TDI регістра; видає своє вмістиме або всередину кристалу або назовні (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування); приймає зсередини кристалу або ззовні інформацію (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування) і запам’ятовує її; виводить прийняту інформацію на послідовний вихід TDO регістра зсуву. Основні режими роботи схеми граничного сканування: робочий режим (схема F "прозора"); послідовне завантаження регістру зсуву; видача завантаженої інформації всередину (назовні) мікросхеми; прийом обробленої інформації ззовні (зсередини) мікросхеми до регістру зсуву; послідовне вивантаження інформації. Тригерна схема, яка знаходиться біля входу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію всередину мікросхеми і сприймати нову інформацію ззовні. Після чого регістр зсуву послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO. Тригерна схема, яка знаходиться біля виходу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію назовні мікросхеми і одночасно сприймати нову інформацію зсередини. Після чого регістра зсуву з входу TDI послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO. Хід роботи: 1. Для реалізації завдання було здійснено такі кроки: занесення коду тестової команди (рис. 2): код 00000011 відповідає команді InTest, тобто здійснюється внутрішнє тестування
Рис. 2 Стан автомата при занесенні команди 2 – введення тестових даних через вхід TDI (рис.3); Рис. 3 Шлях введення тестових даних 3 - фіксація введених тестових даних (рис.4); Рис. 4 Фіксація тестових даних 4 - обробка тестових даних системним ядром (System Level) і фіксація їх на виході ядра (рис. 5); Рис. 5 Фіксація даних на виході ядра 5 – виведення результату і його аналіз (рис.6).                                                  Рис. 6 Шлях виведення результату Висновок: я ознайомився з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990 і продемонстрував хід тестування на моделі.